Development of the architecture of an integrated system for generating pseudo-random tests of digital devices

Authors

  • T. A. Zinchenko Donetsk National Technical University
  • Yu. E. Zinchenko Donetsk National Technical University
  • O. N. Dyachenko Donetsk National Technical University

Keywords:

digital device, pseudo-random testing, adaptive testing, parallel testing, constant fault, typical replacement element, alternative graph

Abstract

The architecture of an integrated system for generating pseudo-random tests of digital devices is proposed. The numerous functions of the system are described, the structure of the software and the interface of the system are described. The key features of the system being developed are analyzed, which favorably distinguish it from other test building systems, such as adaptive pseudo-random testing, the construction of the so-called alternative graph of the diagnostic object in the testing process, parallel testing in the local computer network of both one and a group of diagnostic objects with construction in dynamics alternative graphs of diagnostic objects. These features are unparalleled among test building systems.

Author Biographies

T. A. Zinchenko, Donetsk National Technical University

старший преподаватель кафедры прикладной математики факультета интеллектуальных систем и программирования Донецкого национального технического университета

Yu. E. Zinchenko, Donetsk National Technical University

кандидат технических наук, доцент, доцент кафедры компьютерной инженерии факультета интеллектуальных систем и программирования Донецкого национального технического университета

O. N. Dyachenko, Donetsk National Technical University

кандидат технических наук, доцент, доцент кафедры компьютерной инженерии факультета интеллектуальных систем и программирования Донецкого национального технического университета

References

Bushnell, M. L. Essentials of electronic testing for digital, memory and mixed-signal VLSI circuits / M. L. Bushnell, V. D. Agrawal. – Kluwer academic publishers, 2001. – 690 p.

Rene, David. Random testing of digital circuits. – CRC Press, 1998. – 496 p.

Cперанский, Д. В. Моделирование, тестирование и диагностика цифровых устройств : учебное пособие 3-е изд. / Д. В. Cперанский, Ю. А. Скобцов. — Москва: Интернет-Университет Информационных Технологий (ИНТУИТ), Ай Пи Ар Медиа, 2020. — 529 c. // Электронно-библиотечная система IPR BOOKS: URL: http://www.iprbookshop.ru/94854.html (дата обращения: 30.12.2020). — Режим доступа: для авторизир. пользователей

Ярмолик, В. Н. Генерирование и применение псевдослучайных сигналов в системах испытаний и контроля / В. Н. Ярмолик, С. Н. Демиденко. - Минск, 1986.

Зинченко, Ю. FPGA-технологии проектирования и диагностика компьютерных систем / Ю. Зинченко, В. Калашников, С. Хайдук и др. // Сборник научных трудов VI Междунар. научн.-практ. конф. «Современные информационные технологии и ИТ образование». – Москва: МГУ, 2011. – Т. 1. - С. 422-429. - Режим доступа: http://conf.it-edu.ru/conference/2011/work

Нестеренко, Д. О. Тестирование аналоговых и аналогово-цифровых схем методами цифровой обработки сигналов / Д. О. Нестеренко, Ю. Е. Зинченко, В. Н. Соленов // Информатика и кибернетика. - Донецк: ДонНТУ, 2020. - № 4(22). – С. 77–59.

Дяченко, О. Н. Применение методов помехоустойчивого кодирования для компактного тестирования цифровых схем / О. Н. Дяченко, Ю. Е. Зинченко, В. О. Дяченко // Информатика и кибернетика. - Донецк: ДонНТУ, 2017. - № 3(9). – С. 55–59.

Зинченко, Ю. Е. Имитация периферий-ных устройств в системе дистанционного доступа к FPGA-комплексам / Ю. Е. Зинченко, В. С. Ленч, Т. А. Зинченко, В.Н. Павлыш // Информатика и кибернетика. - Донецк: ДонНТУ, 2017. - № 3(9). – С. 60–68.

Зинченко, Ю. Е. Детерминированная оценка длины псевдослучайного теста ОЗУ // Cб. научн. тр. ДонГТУ "Информатика, кибернетика и вычислительная техника (ИКВТ)-97". - Донецк: 1998. - Вып. 1. - С. 176-188.

Зинченко, Ю. Е. Сопроцессор псевдослучайных тестов для персональной ЭВМ // Докл. научн. техн. конф. «Творческое наследие В.И. Вернадского и современность», секция «Актуальные проблемы Вычислительной техники». - Донецк: ДонНТУ, 1995. - Ч.1. – 62 с.

Корченко, А. А. Оптимизация адаптив-ного подхода генерации псевдослучайных тестов / А. А. Корченко, Ю. Е. Зинченко // Наукові праці ДонНТУ. Серія «Проблеми моделювання та автоматизації проектування» (МАП-2012). Вип. 10. – Донецьк: ДонНТУ. – 2012. – с. 60-68.

Зинченко, Ю.Е. Адаптивный подход к генерации псевдослучайных тестов цифровых устройств / Ю. Е. Зинченко, А. А. Корченко // Наукові праці Донецького національного технічного університету. Серія «Проблеми моделювання та автоматизації проектування» (МАП-2011). – Донецьк: ДонНТУ, 2011. – Вип. 9 (179). – С. 360-365.

Зинченко, Ю. Е. Машинно-аналитический способ расчета случайного теста константных неисправностей цифровых устройств / Ю. Е. Зинченко, А. А. Корченко, Т. А. Зинченко // Наукові праці ДонНТУ, cер. «Проблеми моделювання та автоматизації проектування» (МАП-2012), 2012. - № 1 (10)-2(11). - С. 31-38.

Зинченко, Ю. Е. АГАТ – cистема автоматизированной генерации псевдослучайных адаптивных тестов / Ю. Е. Зинченко, А. А. Корченко, Т. А. Зинченко // Матеріали III межд. наук.-практ. конф. студ., асп. та молод. вчен. «Інформація і керуючі системи в промисловості, економіці та екології», вересень 2011 Сєвєродонецьк: Технол. ін-т Східноукр. нац. ун-ту ім. В. Даля, 2011. – 7 c.

Published

2023-03-02

How to Cite

Zinchenko Т. А., Zinchenko Ю. Е., & Dyachenko О. Н. (2023). Development of the architecture of an integrated system for generating pseudo-random tests of digital devices. Informatics and Cybernetics, (4(26), 27–32. Retrieved from https://ojs.donntu.ru/index.php/infcyb/article/view/22

Issue

Section

Статьи